atomic force microscopy en français
microscopie à force atomique
Abréviation : MFA
Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure des variations des forces attractives et répulsives s’exerçant entre les atomes de la pointe de la sonde et ceux de la surface de l’échantillon.
En anglais : atomic force microscopy (AFM).
Voir aussi : microscopie à effet tunnel, microscopie à sonde locale, microscopie optique en champ proche
Journal officiel du 28 janvier 2020· matériaux, chimie, chimie physique
D'après FranceTerme, la base des termes publiés au Journal officiel par la Commission d'enrichissement de la langue française (ministère de la Culture, licence ouverte). Ces termes s'imposent aux administrations de l'État ; pour les autres, ils sont une recommandation.