scanning probe microscopy en français
microscopie à sonde locale
Abréviation : MSL· Aussi : microscopie en champ proche, MCP
Technique qui permet d’obtenir une image à très haute résolution de la surface d’un échantillon, en balayant cette surface avec une pointe fine.
1. La limite de résolution de la microscopie à sonde locale peut être inférieure à cent picomètres, ce qui permet de visualiser les atomes.
2. La microscopie à effet tunnel, la microscopie à force atomique et la microscopie optique en champ proche sont des exemples de microscopie à sonde locale.
En anglais : scanning probe microscopy (SPM).
Voir aussi : microscopie à effet tunnel, microscopie à force atomique, microscopie optique en champ proche
Journal officiel du 28 janvier 2020· matériaux, chimie, chimie physique
D'après FranceTerme, la base des termes publiés au Journal officiel par la Commission d'enrichissement de la langue française (ministère de la Culture, licence ouverte). Ces termes s'imposent aux administrations de l'État ; pour les autres, ils sont une recommandation.