scanning tunnelling electron microscopy en français
microscopie à effet tunnel
Abréviation : MET
Microscopie à sonde locale qui utilise la mesure de l’intensité du courant électrique dû au passage des électrons par effet tunnel entre la pointe de la sonde et la surface de l’échantillon.
La microscopie à effet tunnel nécessite que la pointe de la sonde et la surface de l’échantillon soient toutes deux conductrices.
En anglais : scanning tunnelling electron microscopy (STEM), scanning tunnelling microscopy (STM).
Voir aussi : microscopie à force atomique, microscopie à sonde locale, microscopie optique en champ proche
Journal officiel du 28 janvier 2020· matériaux, chimie, chimie physique
D'après FranceTerme, la base des termes publiés au Journal officiel par la Commission d'enrichissement de la langue française (ministère de la Culture, licence ouverte). Ces termes s'imposent aux administrations de l'État ; pour les autres, ils sont une recommandation.